半导体测试设备作为芯片性能验证的核心环节，其内部精密组件在高频、高负载运行下会产生集中热量，且测试环境对温度稳定性、空间适配性要求严苛，散热问题一直是影响测试精度与设备寿命的关键。毫厘将此领域的散热解决方案列为重点布局方向，依托在复杂散热场景中的技术积累，针对半导体测试设备的小型化、高密度特点，研发出适配的高效散热方案。
半导体测试设备作为芯片性能验证的核心环节，其内部精密组件在高频、高负载运行下会产生集中热量，且测试环境对温度稳定性、空间适配性要求严苛，散热问题一直是影响测试精度与设备寿命的关键。毫厘将此领域的散热解决方案列为重点布局方向，依托在复杂散热场景中的技术积累，针对半导体测试设备的小型化、高密度特点，研发出适配的高效散热方案。
